26 November 2017 - یکشنبه 5 آذر 1396

تعداد بازدید:1,848

کاربران حاضر:12

SPM


Scaning Probe Microscope

DME-95-50 E

ارائه نقشه توپوگرافی (سه بعدی) سطح، نقشه مناطقی از سطح که از نظر فیزیکی یا شیمیایی از بقیه نقاط متمایز هستند. اطلاعاتی در مورد خواص الکتریکی، مکانیکی، مغناطیسی، اپتیکی

· دقت اندازه گیری تا 1/0 نانومتر

· حداقل نمونه لازم: از نظر ابعادی حداکثر 3 سانتی متر و از نظر ارتفاع کمتر از 3 میلی متر

· مدهای دستگاه:

- Atomic Force Microscopy (AFM) تصویر توپوگرافی، تصویر فاز، اندازه­گیری پارامترهای زبری و سه بعدی کردن تصویر، اندازه ذرات و توضیح ذرات از نظر ارتفاع، شکاف سطح، بررسی کیفیت ساختار، بررسی تحولات ساختار با گذشت زمان و در شرایط مختلف

-  Scanning Tunneling Microscopy (STM) بررسی ساختار و خواص سطوح مواد رسانا

- Frictional/ Lateral Force Microscopy (LFM-FFM) اندازه­گیری چسبندگی و اصطکاک و نیروهای پیوندی در سطوح جامد و مایع

- Magnetic Force Microscopy (MFM) مطالعه خواص مغناطیسی موضعی و تغییرات نیروی مغناطیسی در سطح نمونه، به تصویر کشیدن ساختار حوزه­های مغناطیسی ایجاد شده به طور طبیعی یا مصنوعی در مواد مغناطیسی

- Electrochemical Scnning Tunneling Microscopy (ECSTM) تصویر توپوگرافی قبل و بعد از اکسیداسیون و احیاء، مطالعات خوردگی

- Liquid Cell بررسی توپوگرافی و خواص سطوح در محیط مایع، مطالعات ماکرومولکول­ها و نمونه­های بیولوژیکی

 

فرم درخواست آنالیز

 


تاریخ ایجاد: چهارشنبه 6 اسفند 1393
تاریخ انتشار: چهارشنبه 6 اسفند 1393
تعداد بازدید: 1849